搪玻璃容器玻璃层厚度测量

搪玻璃容器的搪玻璃层厚度一般为0.8～2.0mm，采用电磁性仪器无损测量磁性基体上的搪玻璃层厚度。其原理是用电磁法测量通过搪玻璃层与金属基体磁路磁阻的变化而得到搪玻璃层的厚度。测量精度对薄的搪玻璃层是一个常数值，与厚度无关。对厚的搪玻璃层，其精度随搪玻璃层厚度的增加有所降低。

磁性测厚仪受金属基体磁性变化的影响，低碳钢的磁性变化是轻微的，为了避免热处理和冷加工因素的影响，最好采用未搪玻璃前的试件进行校正。同时，仪器制造厂会提供磁性测厚仪的临界厚度值，超过这个厚度，测定值不会受到金属基体厚度增加的影响。

搪玻璃层的表面粗糙度、曲率半径、边缘效应对测量值都有影响。如果在搪玻璃层粗糙表面上同一参考面积内所测得的数值超过仪器固有的重现性，则测量次数应增加到5次。搪玻璃层的曲率半径越小，影响越明显。太靠近搪玻璃层边缘或拐角处的测量数值是不可靠的，应距边角＞15mm处进行测量。同时，搪玻璃层表面必须干净，不能有附着物。为保证测量值的准确性，可根据具体条件对测厚仪进行校正。

另外，金属基体机加工方向、金属基体中的剩磁、测试现场的磁场、测头压力的大小、测头方向与地球重力场方向相同或相反等都有影响，应采取措施以使测量值准确。